Waveline W20

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Waveline W20

Waveline W20 技术亮点

– 紧凑轻便

– 通过彩色触摸屏实现交互式操作

– 测头自动定位在工件表面上，所以调整的耗时少

– 用于测量国际标准所有常见粗糙度、波纹度和轮廓参数的自由探测系统

– 通过内置的粗糙度标准件对测量仪进行即时检测

– 易更换的基准面测头

– 用于即时打印测量结果的一体化打印机

– 共有7 个测量程序，另加1 个用于仪器检测的测量程序

测量能力


粗糙度及轮廓参数


波纹度参数


简介参数


特色


W20


Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, RSm, Rc, Rp, Rv, Rsk, Rku, Rdc,


Wt, Wz, Wa, Wp,


–


–



Rdq, RzISO, Rmr, Rmr(c), C(Rmr), Pt, Pz, Pa, Pc, Pp, Pv,


Wv, WSm, Wq,







PSm, Pq, PSk, Pku, Pdq, Pdc, Pmr, Pmr(c), C(Pmr), Rk,


WSk,Wku, Wdq,







Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rpk*, Rvk*, R, AR, Rx, CR,


Wc, W, Wx, Aw







CF, CL, Nr, Rp, Rpm, Rz-JIS, RPc, R3z, 密封参数 Rmr (









系数*参数）








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