JD200.2μ立式光学计

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JD200.2μ立式光学计

产品特点
1、 精度高,测量数据可靠。
2、 采用光学投影读数,影屏上亮度大,匀称、像面清晰,操作方便。
3、 工作台结构采用互换式,装拆、调整极为方便。

产品特点

1、 精度高,测量数据可靠。
2、 采用光学投影读数,影屏上亮度大,匀称、像面清晰,操作方便。
3、 工作台结构采用互换式,装拆、调整极为方便。
4、 灯光调节灵敏可靠。

产品用途

本仪器是高精度比较式测长仪器,在工厂计量室及计量检测所等部门广泛用于测量三、四等量块及精密零件(如钢球、滚柱、阶梯形精密零件、塞规)的外尺寸。

技术参数

工作台尺寸: 七筋工作台适用于长度大于20mm 球筋工作台适用于长度小于20mm 平面工作台用于圆柱体、钢球或其它类似零件的外尺寸测定工作。 低量块移动架仅适用于尺寸小于10mm 低量块移动架仅适用于尺寸大于10mm    
测量范围:
测量范围(mm):0—180
最小分划值:0.2μm 分划板分划范围:±100个分度
测量力(N):1.20±0.2
分划线像的微调范围: ±5个分度
每个分划的视见宽度:1.7㎜
测量轴与测帽内径配合的外径尺寸:φ6g6
测帽内径配合尺寸:φ6H7
示值误差:±(0.05+0.0025A)um   (其中A为示值,单位为um)
示值重复性:0.02μm

仪器的外形尺寸(㎜):320×230×820

仪器重量:30㎏