Waveline Toposcan

产品展示 > JENOPTIK 业纳 > Waveline Toposcan

Waveline Toposcan

Waveline Toposcan 技术亮点
Toposcan 是检测缸孔精细加工面(如珩磨面)的理想检验系统,测量速度快,测量结果精确可靠。 由于测量仪的探头结构紧凑,所以既可用于光学表面检验,也可用于接触式表面粗糙度测量,柔性极高。
–重量轻,可移动使用
–符合人体工程学要求,操作简便
–缸孔不同直径时调整方便
–具有高达 210 倍放大倍率的高光学分辨率,适用于极精细结构
–自动确定珩磨角度

Waveline Toposcan 技术亮点

Toposcan 是检测缸孔精细加工面(如珩磨面)的理想检验系统,测量速度快,测量结果精确可靠。 由于测量仪的探头结构紧凑,所以既可用于光学表面检验,也可用于接触式表面粗糙度测量,柔性极高。

– 重量轻,可移动使用

– 符合人体工程学要求,操作简便

– 缸孔不同直径时调整方便

– 具有高达 210 倍放大倍率的高光学分辨率,适用于极精细结构

– 自动确定珩磨角度


上一个: Waveline W800/W900
下一个: Waveline W20