Waveline W800/W900

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Waveline W800/W900

W800/W900 粗糙度轮廓测量系统采用统一的系统设计方案和极为先进的探测系统，能以高度灵活性应对日常测量工作。两个测量平台均为模块化设计，之后可根据需求轻松扩展配置。工业生产过程中对测量精度的要求迥然各异，您可以根据具体的测量要求选择W800/W900 系统进行测量。W 系列测量系统操作简便，并且配有 Evovis 测量和评估软件，可提供不同国家标准的分析方法。W800 测量系统尤其适合于手动或者自动测量，能应对变化多端的工件和测量任务。W900 测量系统主要用于定制化的自动化测量，能够非常快速完成测量任务。

Waveline W800/W900 技术亮点更加精确

W800: 通用型测量系统，结果精确，适用于各种测量任务

W900: 可满足超高精度要求的测量系统，性能极佳，适用于自动化测量

 

更加迅速

W800: 驱动箱定位速度 20 mm/s，能快速获取精确的结果

W900: 驱动箱速度 200 mm/s，立柱定位重复精度 <10 μm，能在极短时间内得到精确的结果

 

更加灵活

W800: 传感器选择性大，可应对各种测量任务

W900: 驱动箱带有两个传感器接口，应用更加灵活

测量能力


粗糙度及轮廓参数


波纹度参数


简介参数


特色


W800/W900


Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RΔq, Rmr,


Wt, Wa, Wz, Wp,


Pt, Pa, Pz, Pp, Pv,


R3z, Rp3z, R3zm,



C(Rmr), Rmr(c), Rdc,


Wv, Wq, WSm, Wc,


Pq, PSm, Pc, Psk,


WDSm, WDt, WDc,



Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R, Rx,

AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa,


Wsk, Wku, WΔq,

Wmr, C(Wmr),


Pku, PΔq, Pmr,

C(Pmr), Pmr(c), Pdc


DG, Dt, DP, DF, DFu,

DLu, Dγ



Wca, Rmax, RzISO, D, Δa, Δq, L0


Wmr(c), Wdc







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