SuperView W3白光干涉仪

产品展示 > 光学3D表面轮廓仪 > SuperView W3白光干涉仪

SuperView W3白光干涉仪

SuperView W3白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。
  SuperView W3白光干涉仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。

产品型号:SuperView W3

产品名称:白光干涉仪

原理:非接触、三维白光扫描干涉仪

扫描装置:长范围,Z轴纳米光栅控制

物镜:Nikon,10×无限远共轭干涉物镜

物镜座:5孔电动物镜塔台(标准)

测量阵列:1024*1024,工业级相机

Z轴:100mm行程,纳米位移闭环反馈

安全性:系统集成紧急制动功能

样品台:0.1nm电动,俯仰倾斜±6°,电动调节,XY行程300*300
    尺寸450*450mm,亚微米闭环反馈